UV-760CRT上海仪电 原上海精科/上分 UV-760CRT紫外分光光度计

上海仪电 原上海精科/上分 UV-760CRT紫外分光光度计

UV-760CRT紫外分光光度计主要特点：

●采用全息闪耀光栅，双光束C-τ式光路结构，高分辨率，低杂散光，测光精度高，稳定性能好
●微机控制、自动记录，打印机可在一张记录纸上打印出光谱图、测试数据及操作参数
●自动转换光源(可在294nm-364nm之间任意设定)
●有功能较强的光谱处理能力

UV-760CRT紫外分光光度计产品技术参数：

●测光方式：双光束C-τ式光路结构，全息闪耀光栅，光电倍增管检测
●波长范围：190nm-900nm
●分辨率：优于0.15nm
●光谱带宽：0.08nm-5nm间隔0.01nm连续可调
●波长准确度：±0.3nm(内装自动波长校正装置)
●波长重复性：<0.2nm
●杂光：优于0.08%(在220nm处，以Nal测定)
●测光准确度：±0.3％（以NBS930D测定）
●测光重复性：0.2nm
●波长扫描速度：快、中、慢
●透射比准确度：优于±0.3％(τ)(用NBS930滤光片测定)
●稳定性：≤±0.004A/30min

上海仪电 原上海精科/上分 UV-760CRT紫外分光光度计

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